车规级功率器件综合测试系统
车规级功率器件综合测试系统包括动态/静态特征剖析测试、一连功率测试、热阻剖析和功率循环测试等多个测试子系统，，，，，，，其中车规级功率器件动态测试系统是专门用于针对车载三代半导体功率器件的动态特征剖析测试，，，，，，，旨在解决客户在功率器件动态特征表征中常见的疑难问题，，，，，，，包括怎样设计高速事情的驱动电路，，，，，，，怎样适配多种芯片封装形式，，，，，，，怎样选择和毗连探头举行信号测试，，，，，，，怎样优化和抑制测试历程中的噪声和滋扰。。。。。资助客户在研发设计、失效剖析、进厂检测和试产阶段快速评估器件性能，，，，，，，更快应对市场需求改善产品性能。。。。。也资助客户快速验证自研驱动电路，，，，，，，加速应用端解决计划落地。。。。。
| 种别 | 项目 | 指标 |
|---|---|---|
| 采样 | 测试采样频率 | 10GS/s |
| 示波器丈量带宽 | 2GHz | |
| 电流测试最高带宽 | 200MHz | |
| 电压测试最高带宽 | 200MHz | |
| 测试能力 | 测试最高电压 | 2000V |
| 最大测试电流 | 1500A | |
| 回路电感 | ~10nH | |
| 测试电感 | 10-500uH (分档可调) | |
| 门级驱动 | 开通电压 | +20V |
| 关断电压 | -12V | |
| 最大电流 | 15A | |
| 驱动电阻 | 0-255Ω | |
| 器件 类型 |
测试器件类型 | 碳化硅MOSFET ？？？？？？？ |
| 测试封装类型 | 差别封装结构的功率 ？？？？？？？ | |
| 温度 | 测试装备事情温度 | 15-40℃ |
| ？？？？？？？椴馐晕露裙婺 | 室温-175°C |
特色功效
- 使用泰克的高共模抑制比的高压差分ISOVU光隔离探头，，，，，，，知足新一代SiC/GaN半导体器件更高母线电压和更快开关时间的丈量挑战要求
- 选用12 bit笔直区分率示波器产品，，，，，，，准确反应波形的细节，，，，，，，获取特征参数的准确效果
- 低回路电感设计，，，，，，，系统典范值< 10nH @2000V
- 自动测试功率半导体 ？？？？？？？榈裙β拾氲继迤骷的双脉冲(Double Pulse Testing)、单脉冲(Single Pulse Testing) 和短路清静事情区测试，，，，，，，测试计划完全切合IEC60747-8/9, JEDEC标准
- 功率器件筛管测试，，，，，，，特有精准分类筛管算法，，，，，，，支持大批量和样品级测试
- 动态可靠性测试，，，，，，，具备预处置惩罚及消除迟滞效应的功效，，，，，，，具备高温高速高频高精度交流脉冲源、高精度、检测的参数多、对应要领多、检测快等特点
被测工具
SiC/GaN单管、 ？？？？？？？，，，，，，，顺应种种封装和驱动电路，，，，，，，并可周全验证功率器件在车载OBC/DC-DC、充电桩、光伏储能逆变器等应用场景下输入与输出功率能力、发热、效率等方面的性能。。。。。
- 实验室半导体器件或 ？？？？？？？槎问橹
- 实验室驱动与半导体器件匹配动态参数验证和整改
- 教学和科研的半导体器件或 ？？？？？？？檎宥问拦
- 半导体器件电路应用的特征筛选测试
- 半导体分立器件脉冲测试
系统优势
- 高效率
可举行双脉冲测试/QG/RDS(ON)测试，，，，，，，单次测试即可完成开关特征和反向恢复特征测试 - 要害手艺
特有驱动电路的设计和滤波算法可将测试主回路杂感低至6nH测试均一性由15%降至5%以内 - 数据治理
实时生涯测试效果(CSV)，，，，，，，可选择同时生涯波形数据，，，，，，，天生报告 - 清静防护
防爆、防触电、防烫伤、过流保；；；；；ぁ⒐贡；；；；；；，，，，，，， 10kA级短路电流测试能力，，，，，，，定心探索产品极限
功率器件其他测试计划
碳化硅功率半导体静态特征测试系统
| 01 | ? 测试精度更高 ? 测试要领更迭 ? 测试规模更宽 ? 温度敏感性问题更突出 |
| 02 | ? 新闻态系统匹配兼容 |
| 03 | ? 特有精准分类筛管算法 ? 支持客户自界说标准 ? 支持大批量和样品级测试 |
更高性价比，，，，，，，测试更可靠
- 器件类型：IGBT & SiC MOSFET
- 笼罩-40℃~200℃ 全温度规模测试
- 开放主流厂家静态参数测试条件，，，，，，，亦可更具客户需求自界说
- 知足种种封装需求
车规级碳化硅功率半导体 ？？？？？？？橐涣β什馐韵低
- 测上限：验证车规级SiC MOSFET功率半导体 ？？？？？？？樵诘缜低秤τ霉た鱿乱涣β誓芰妥畲笫涑瞿芰
- 测耐久：验证车规级SiC MOSFET功率半导体 ？？？？？？？榈缬ατ肴扔α，，，，，，，以及耐久特征。。。。。
- 周全高效： 为可靠性及寿命提供包管，，，，，，，加速推动车规级SiC MOSFET ？？？？？？？榕靠煽坑τ
热阻剖析和功率循环测试系统
- 测试系统接纳多个被测串联测试加热原理，，，，，，，每路通过控制电源的输出，，，，，，，给被测元件施加差别的加热电流
- 支持完成秒级功率循环、分钟级功率循环
- 支持完成静态热阻测试、瞬态热阻测试
- 测试知足MIL-STD-750 Method，，，，，，，IEC相关标准要求
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