参数测试、可靠性测试、快速脉冲测试

FS-Pro半导体参数测试系统是一款功效周全、设置无邪的半导体器件电学特征剖析装备。。。。。。

• 在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、恣意线性波形爆发与丈量、高速波形爆发与釆集以及低频噪声测试能力，，，，，，，险些所有半导体器件的低频特征表征都可以在FS-Pro测试系统中完成。。。。。。
• 周全而强盛的参数测试剖析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估历程，，，，，，，并可与概伦9812系列噪声测试系统无缝集成。。。。。。
• 釆用工业通用的PXI？？？？？？榛布架构，，，，，，，系统设置无邪，，，，，，，扩展性强。。。。。。
• 内置专业测试软件LabExpress提供富厚的测试预设和强盛的数据处置惩罚功效。。。。。。
• LabExpress软件同时支持自动化量测和并行量测，，，，，，，可进一步提升测试效率。。。。。。
• 普遍应用于种种半导体器件、LED质料、二维质料器件、金属质料、新型先进质料与器件测试、器件可靠性等研究领域。。。。。。

产品亮点

• 一体化装备
  单机可收罗高精度IV、CV、脉冲IV
  高速波形和瞬态IV采样及1/f噪声
• 功效强盛
  宽电压电流输出规模、高精度
  支持高速采样时域信号收罗和恣意线性波形天生
• 广受认可
  被众多科研院所、芯片设计公司和代工厂、
  IDM公司釆用，，，，，，，现在已有海内外百余家客户
• ？？？？？？榛芄
  支持无邪、可扩展的
  测试设置
• 简朴易用
  内置专业LabExpress丈量控制剖析软件
  无需重大编程可实现数据丈量设置、执行和数据剖析
• 源表
  可用作981X系列内部SMU？？？？？？
  无缝集成到981X系列噪声测试系统

产品应用

• 工艺制程研发与器件参数测试
• 半导体器件可靠性测试
• 半导体器件超短脉冲测试
• 非易失性存储器测试
• 光电器件和微电子机械系统测试
• 二维质料器件测试
• 金属质料测试
• 新型先进质料与器件测试