针对COMS,CCD等影像传感器开发，，，，，，，，适合多种规格的芯片传感器的量子效率丈量。。。。。

1.可量测简单像素点的量子效率。。。。。
2.可量测全数组像素量子效率。。。。。
3.可爆发种种所需单色光匀称光源，，，，，，，，自动化校正各单色光、特定单色光入射光子数。。。。。
4.选配：可加配CRA载台，，，，，，，，用以测试chief ray angle。。。。。
5.选配：软件可配适用户需求修改。。。。。
6.为全自动化设计，，，，，，，，操作浅易。。。。。

主要可丈量的参数：
1.系统增益System gain(K)
2.量子效率Quantum efficiency
3.饱和照射光子数
4.最小可探测照射光子数
5.动态规模(DR)
6.暗电流
7.线性度和线性误差Linear-Error
8.光电响应不匀称度PRNU
9.暗信号不匀称度 DSNU

系统优势:
QE-IS系统接纳光焱科技研发多年的单色光均光系统具备下列多项优势:

• 高匀称度
  可爆发高匀称度的单色光光斑，，，，，，，，在10x10mm2面积内匀称度可以>99%，，，，，，，，在20x20mm2面积内仍可维持在>98%。。。。。与积分球系统相较，，，，，，，，具有更佳的匀称度体现。。。。。
  
  *QE-IS均光面的光强漫衍图。。。。。

• 高光强度、高讯噪比
  QE-IS高效率均光系统，，，，，，，，以550nm单色光为例，，，，，，，，在QE-IS系统光均面的光强度可>5 uW/cm2，，，，，，，，相较于积分球系统的单色光强仅1x10-8 uW/cm2，，，，，，，，两者差别万万倍，，，，，，，，QE-IS辖档涂测具备先进的讯噪比，，，，，，，，可准确测出感光组件的量子效率等相关光学特征。。。。。

• 可作单像素QE量测
  因QE-IS单色光强度足够(5 uW/cm2@550nm)，，，，，，，，打在1 um的像素单位，，，，，，，，爆发的光电流约在20 pA，，，，，，，，相较于积分球系统爆发的简单像素光电流在sub-fA以下，，，，，，，，QE-IS系统可直接用于量测数组感光组件上，，，，，，，，任何简单像素的量子效率。。。。。

• 可作全数组像素QE量测
  除简单像素量测，，，，，，，，QE-IS可整合或是被整合于使用者自行开发的感光组件的数字电路讯号，，，，，，，，以量测全数组像素QE。。。。。

• 可作CRA量测
  QE-IS的匀称单色光发散角度< 5度，，，，，，，，相较积分球的发散角度 >90度，，，，，，，，搭配选配的旋转平台，，，，，，，，即可量测CRA(Chief Ray Angle)特征。。。。。无需特殊添购系统，，，，，，，，利便整体的量测。。。。。

产品规格
1.适用影像组件尺寸: 1/4"、1/3"、1/2"、2/3"、1"
2.单色光光谱规模: 200~1100 nm (可扩充)
3.匀称光源规格: 10 mm x 10 mm或更大
4.光匀称度> 99 %
5.单色光源角度: < 2.50 (半角)
6.最小波长步进区分率：0.1 nm
7.波长FWHM 可做0.1~30 nm调解
8.CRA角度精度?1度

*QE 量测效果


*CRA 量测效果