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光焱 LITS 室内光源模拟系统 / 老化测试

光焱 LITS 室内光源模拟系统 / 老化测试
光焱 LITS 室内光源模拟系统 / 老化测试
浏览量:8798
型  号:LITS
名  称:室内光源模拟系统 / 老化测试
品  牌:光焱(Enli)
分  类:光伏测试装备 > 太阳能电池测试 > 太阳光模拟器
产品属性:主机
简  述:

室内太阳能电池测试和特征剖析系统能模拟室内光源种种光色、种种强度光谱,,,,,,高匀称度(≦±2%)、大面积(> 可订制),,,,,,可溯源光强校正元件,,,,,,可准确评价室内用太阳能电池的转换效率。。。。。 。

LITS 室内光源模拟系统/老化测试 产品途述


室内太阳能电池测试和特征剖析系统能模拟室内光源种种光色、种种强度(200 lux ~ 10000 lux ; 0.00005 sun ~ 0.025 sun ; 0.05 ?W/m2?~ ?25 W/m2?; 0.005 mW/cm^2?~ 2.5 mW/cm^2?; 一连可调)光谱,,,,,,高匀称度(?±2%)、大面积(> 250 x 250 mm^2?; 可订制),,,,,,可溯源光强校正元件,,,,,,可准确评价室内用太阳能电池的转换效率。。。。。 。

LITS 室内光源模拟系统/老化测试 规格


项目 规格
光源系统a. 光源系统整合T5光源与LED白光光源,,,,,,两套光源的光路切换。。。。。 。
b. 光源系统具备自动散热子装置,,,,,,并有清静 ;;;;;ぷ爸谩!。。。 。
T5 光源系统:
  • 光强度可手动调解10%~100%输出
    光强度规模可涵盖200~10000 Lux
    可再透过Z轴手动样品台的高度调解来做细调调解剖析度<5 Lux 。。。。。 。
  • 在25 cm x 25 cm规模内匀称度可以抵达B级 (?±5%)
  • 在50 cm x 50 cm规模内匀称度可以抵达C级 (?±10%)
  • 不稳固度可抵达B级 (?±5%)
c. LED光源系统:
  • LED阵列模组
    光强度可由电脑控制器控制调解(0-100%)
    光强度规模可涵盖200~10000 Lux,,,,,,调解剖析度1000 steps。。。。。 。
  • 在25 cm x 25 cm规模内匀称度可以抵达B级 (?±5%)
  • 在50 cm x 50 cm规模内匀称度可以抵达C级 (?±10%)
  • 光的稳固度也可抵达A级 (?±2%)
# 不匀称度和不稳固度是凭证IEC 60904-9 标准。。。。。 。
暗箱系统a. 可有用阻遏情形光线、杂光,,,,,,阻止影响低照度时的测试效果准确性(外观以玄色为主体)。。。。。 。
b. 暗室尺寸(长1.7 m,,,,,,?1.5 m,,,,,,高1.9 m)。。。。。 。
c. T5/LED 光源可快速切换,,,,,,无需拆卸。。。。。 。
d. 可扩充8通道量测系统(选配)。。。。。 。
电测系统a. SMU功效。。。。。 。
b. 整合式4象限电源量测能力。。。。。 。
c. 最大输出:210 V,,,,,,3 A 直流/10.5 A 脉冲电流。。。。。 。
d. 1 pA/1 uV最小电源剖析度 ;;;;;100 fA/100 nV 最小量测剖析度。。。。。 。
e. 支援常用的SMU SCPI指令集。。。。。 。
丈量软体a. 具备SMU设定功效。。。。。 。
b. 可以设定电压正逆扫模式,,,,,,可自动完成正逆扫量测并展现效果。。。。。 。
c. 可以剖析太阳能电池IV特征曲线参数: Jsc、Voc、FF、PCE。。。。。 。
d. 可设定Sweep或是Step扫描模式,,,,,,并盘算扫描速率 (mV/sec)。。。。。 。
e. 扫描效果可多图并列显示与编辑,,,,,,并能存档输出.exl、.txt等数据名堂。。。。。 。
f. 可执行准时/重覆IV特征曲线量测。。。。。 。
g. IV特征曲线量测自动修正到目的光强下的曲线。。。。。 。
h. 支援两线或四线量测模式。。。。。 。
测试平台a. 提供一共平面检测工具,,,,,,做光强确认(照度、瓦度)。。。。。 。
b. 系统具备照度和瓦度感测器并附溯源校验报告。。。。。 。
c. 提供测试夹具。。。。。 。
d. Z轴手动样品载台,,,,,,行程:>100 mm,,,,,,剖析度:1 mm。。。。。 。
e. 可维持温度在(25±1℃)提供4线量测所需的所有线材与备品。。。。。 。


LITS 室内光源模拟系统/老化测试 特点


  • 一体化设计,,,,,,整合光源系统、测试平台与夹具、校正元件、电表、测试、剖析软体
  • 巧妙双光源设计,,,,,,整合T5灯管与LED光源,,,,,,免拆卸,,,,,,手动浅易切换,,,,,,三秒内完成切换
  • 可溯源低照度校正元件,,,,,,可溯源NIST
  • 可选择勒克斯(lux)及辐照度(irradiance)两种光强度标定与测试
  • TE样品温控系统,,,,,,温控规模20~50℃ ,,,,,,区分率0.01℃ ,,,,,,精度0.1℃ ,,,,,,温控稳固度可达0.2℃
  • 样品面积最大可达160 mm x 160 mm (可订制)
  • 雷射共平面瞄准系统,,,,,,高度误差可在1 mm内
  • IV 测试剖析软体:专案式治理,,,,,,直观、好用、可产出图表
  • 自动辐照度修正
  • 短路电流、开路电压、最大功率、转换效率、并联电阻、串联电阻
  • 软体具备自动、多通道,,,,,,准时量测功效,,,,,,可做老化测试
  • 维护容易、灯源寿命凌驾6000小时、换灯免调灯

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